WBE-KSH1000 / Phòng thử nghiệm thay đổi nhiệt độ nhanh

Mẫu thử có thể được kiểm tra ứng suất nhiệt độ (ESS), sàng lọc nhiệt độ và độ ẩm, kiểm tra độ tin cậy, v.v. Tốc độ dốc nhiệt độ thường được sử dụng là 5 ° C / phút, 10 ° C / phút, 15 ° C / phút, 20 ° C / phút và 25 ° C / phút.

Lĩnh vực ứng dụng:

Chip bán dẫn, tổ chức nghiên cứu khoa học, kiểm tra chất lượng, năng lượng mới, truyền thông quang điện tử, hàng không vũ trụ và công nghiệp quân sự, công nghiệp ô tô, màn hình LCD, y tế và các ngành công nghệ khác.

Tiêu chuẩn thử nghiệm:

Phương pháp kiểm tra nhiệt độ thấp GB / T 2423.1, Phương pháp kiểm tra nhiệt độ cao GJB 150.3, Phương pháp kiểm tra nhiệt độ cao GB / T 2423.2, Kiểm tra nhiệt độ thấp GJB 150.4, Phương pháp kiểm tra chu kỳ độ ẩm GB / T2423.34, Phương pháp kiểm tra độ ẩm GJB 150.9, Phương pháp kiểm tra nhiệt độ và độ ẩm IEC60068-2, Phương pháp kiểm tra độ ẩm MIL-STD-202G-103B

Tính năng sản phẩm:

1. Sản phẩm đáp ứng cả yêu cầu tăng nhiệt độ tuyến tính và phi tuyến.
2. Nó đáp ứng các yêu cầu về tốc độ dốc nhiệt độ từ 5 °C / phút đến 30 °C / phút.
3. Các tính năng tùy chọn bao gồm nitơ lỏng, nhiệt ẩm và chống ngưng tụ.
4. Sử dụng công nghệ van giãn nở điện tử và hệ thống điều khiển sáng tạo, sản phẩm tiết kiệm năng lượng vượt quá 45%.